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打破樣品測樣局限性丨飛時曼頭掃描原子力顯微鏡

點擊次數(shù)：2016  更新時間：2021-07-29

產品對比
                                         

              多模式原子力顯微鏡                                           頭掃描原子力顯微鏡
               FM-Nanoview1000AFM                                                         FM-Nanoview LS-AF


將我司基礎型原子力顯微鏡(FM-Nanoview1000 AFM)和探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)做對比，不難看出我司新研發(fā)的探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-Nanoview LS-AFM)打破了很多傳統(tǒng)原子力顯微鏡結構上和測樣樣品上的局限性，是*先量產化商品化的，能實現(xiàn)樣品不動，探針移動掃描的原子力顯微鏡。打破以往原子力顯微鏡對測樣樣品尺寸、重量的局限性。在適用超大樣品測樣的同時，飛時曼也將樣品臺的可拓展性增強，實現(xiàn)便捷的多儀器聯(lián)用原位測樣。更可根據(jù)客戶需求，訂制化探頭掃描式原子力顯微鏡。廣泛應用于半導體材料與石墨烯材料的測樣研究中。


應用案例




打破傳統(tǒng)局限，做真正意義上的國產原子力顯微鏡，為中國民族工業(yè)添磚加瓦，飛時曼一直在努力！


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